多通道相位相干系统是一种高精度的测试设备，它可以测量各种高精度设备的性能，特别是那些需要高精度计时和时间测量的设备。但是，与其它测试设备相比，多通道相位相干系统也存在着许多的测试挑战。
首先，这种测试设备需要精密的时钟校准。测试精度直接受到时钟信号质量的影响。如果时钟信号出现漂移或是不稳定，测试容易出现错误，从而影响测试结果的准确性。
其次，多通道相位相干系统需要对较高的电磁和光照干扰保护。由于其测试精度非常高，因而很容易受到周围磁场和电场的影响。另外，在光照强度较高的环境下，多通道相位相干系统的测试也容易受到光照的干扰。
另外，多通道相位相干系统的高精度测试还需要无损耗的信号传输和接收。在传输和接收信号的过程中，任何不稳定或损耗都可能会影响测试结果的准确性。这需要对设备的信号传输和接收部分进行高度精密的校准和调整。
此外，当测试时需要同时测量多组不同实物、不同信号的数据时，操作和校准的难度也很大，而且一旦测试中发生任何不良情况，测试所有物体的所有数据都会受到影响。
综上所述，多通道相位相干系统的高精度测试需要面临许多的挑战。但是，通过不断的研究和改进，我们相信，这些挑战会逐渐被克服，而多通道相位相干系统测试也能够实现更加精确和高效的测试。